村上技研/AE型芯片損傷檢測裝置AE-10M 產品特點：
檢測方法 AE（聲發射）法 檢測分辨率 1μm 2 (模具損傷面積) *取決于條件等。 展示 AE波形實時顯示（液晶顯示屏） 檢測信號響應 0.2mS（10ms內繼電器輸出 工作溫度限制 0℃～40℃ 電源 AC100V±10%以下 機身尺寸 145(W)×110(H)×169(D) *不包括突出物等。 傳感器尺寸 ?20Φ（直徑）×20（高）mm：標準靈敏度型 ?20Φ（直徑）×38（高）mm：高靈敏度型（放大器內置型） 帶模擬輸出 直流電壓輸出 0 至約 10V 具有傳感器斷線功能 集電極開路（NPN）輸出
?20Φ（直徑）×38（高）mm：高靈敏度型（放大器內置型）
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